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10月15日,以“巅峰之上·跨越四年的技术长征”为主题的长飞先进技术发布会在深圳拉开序幕。会上,长飞先进自主研发的高性能SiC MOSFET系列芯片及技术路线正式对外亮相。

 

 

从新能源汽车高压平台(800V–1000V+)与超快充技术,到AI数据中心的高压直流供电,SiC MOSFET的战略地位日益凸显,其应用版图已从新能源汽车加速向工业、能源及算力基础设施全面拓展。

 

面对持续攀升的市场需求,业内厂商围绕器件比导通电阻(Rsp)、长期可靠性、鲁棒性(Robustness)及功率等级展开激烈角逐。长飞先进凭借覆盖SiC外延生长、器件设计、晶圆制造及模块封测的全产业链能力,通过持续的MOSFET技术迭代,实现了从追赶、并跑到领先的跨越,不断为客户创造更大价值。

 

 

01

第四代PG4E

多级P阱注入,

长时可靠性和鲁棒性双升级

SiC MOSFET的性能指标涵盖静态/动态性能、长时可靠性以及鲁棒性等多个维度。长时可靠性表征了器件的本征寿命,鲁棒性则体现了器件对短路、过压等系统异常工况的耐受能力。两者共同决定了器件在复杂工况下能否长时间稳定运行,是实现大规模应用的关键。

 

长飞先进的第四代平面型SiC MOSFET采用先进的多级P阱注入技术,实现优化的体区掺杂分布。在不影响沟道表面浓度的前提下,实现N+源区下的高浓度P型掺杂,增强体区对栅氧的屏蔽作用,提高长时可靠性。同时,降低体区的横向电阻,抑制寄生三极管开启,从而提高短路耐量和雪崩耐量。

 

首先,以该代别1200V首发规格为例,常温和高温(175°C)比导通电阻Rsp分别为2.2mΩ.cm²和4.4mΩ.cm²。

 

其次,产品的长时可靠性显著提升。在车规标准试验条件下,并兼顾近雪崩状态下的可靠性验证,反向偏置电压提升至1400V。经过3000小时可靠性考核,器件参数变异性均符合车规产品要求。其中阈值电压Vth变异性小于3.5%,耐压BV变异性小于1%,导通电阻Ron变异性小于1%(如下图),器件展现出优异的长期可靠性。

 

 

最后,器件短路鲁棒性和雪崩鲁棒性同步升级。实测数据显示,优化后设计的短路耐受时间达2.1us,较竞品提升27%;雪崩能量EAS为2711mJ,较竞品提升11.2%。

 

02

第五代PG5E

元胞设计结合垂直结构设计,

高温特性和EMI特性更优

针对日益严苛的实际使用条件,SiC MOSFET在工作时,不仅器件损耗会给系统带来温升和散热的新要求,而且器件快速开关也会给系统带来信号串扰、信号完整性缺失及环路震荡等EMI问题。

 

针对上述问题,第五代产品从以下两个维度进行了系统性优化:

 

首先,元胞尺寸相对于前代微缩超过15%,沟道长度微缩10%,JFET区宽度和掺杂分布优化,体区深度和掺杂分布优化。得益于此,器件导通性能显著提升,常温和高温(175°C)的Rsp分别降低为1.9 mΩ.cm²和3.7 mΩ.cm²,较上一代降低约13.5%,有效降低了芯片面积。体现耐压和导通电阻折中性能的Baliga优值(BFOM)大于1300 MW/cm²,达到业界先进水平。

 

其次,通过高能离子注入技术,对器件局部进行精确的掺杂浓度控制,在器件源极P+区下方引入N型掺杂区域。基于此,器件体二极管在导通状态时,载流子分布呈反转状态,即漏极载流子浓度远高于源极。在体二极管反向恢复过程中,较低的源极载流子浓度使得Irrm大幅降低。较高的漏极载流子浓度,促使在换流末段,器件内部依然存在足够载流子,从而形成有效电流拖尾,压制寄生电感引起的电压震荡,大幅提高体二极管反向恢复软度和电路系统工作的稳定性。实测结果表明:反向恢复过程中的振荡被有效抑制,反向恢复电流Irrm较主流水平降低5.7%;软度因子较主流水平提升27%,有效降低了器件承受的电应力。

 

03

第六代PG6N

更高能效,更耐高温

为满足新能源汽车对高续航里程的持续追求,业界正加速推进高能量密度功率模块的开发,进而对器件的功率密度提出了更为严苛的要求。与此同时,功率密度的提高导致器件的发热更为集中,亟需提高其高温耐受能力。

 

针对上述问题,第六代产品在多个维度实现了全面优化:

 

在功率密度提升方面,产品的优化方向包括:1)尺寸微缩:元胞设计、薄膜、刻蚀和光刻技术引入IC制程迭代思路,实现更小的元胞尺寸和更高的元胞密度,沟道密度提升约15%,使沟道电阻降低 20%。2)注入工艺优化:采用高能量注入方案,更深的体区和JFET区,结合局部半超结概念,实现更优的掺杂分布和电场分布,大幅改善导通电阻与耐压的折中关系。3)晶圆减薄:晶圆最终厚度在前代基础上,减少超过30%,有效缩短散热路径,从而提高芯片的散热效率,有助于缩小散热设备体积。通过上述优化,芯片实现了更大的电流密度,同时具备更好的散热能力,可有效降低系统体积,最终实现高功率密度。实测结果表明,器件的常温与高温(175°C)下的Rsp分别降低至1.7 mΩ.cm²和3.2 mΩ.cm²,较上一代分别降低约12%和13.5%。按照车规产品常用的5mm*5mm的芯片尺寸,175°C下的Ron将低至16mΩ,将更好地满足市场的需求。

 

在高温耐受能力提升方面,PG6N在设计、工艺等环节实现了全方位升级。设计层面,引入更新的终端结构,体内电场强度和表面电场强度分别控制在2.5MV/cm和1.0MV/cm以下,且分布更均匀。工艺层面,场氧化层、层间介质层和钝化层的组分与应力进行重新匹配,以确保在高达200℃甚至225℃环境温度下,器件依然具有良好的可靠性。

04

中高压系列

1500V~3300V全覆盖,

拓展更广应用

提高器件电压规格,意味着更少的系统模块单元和更简化的应用系统。为满足新能源汽车1000V+主驱平台、固态变压器(SST)等中高压应用领域的需求,在PG4E平台成熟稳定的基础上,长飞先进积极开发更高电压规格(1500V~3300V),为客户创造更大价值。

 

针对1000V+主驱应用需求,复杂多变的路况导致负载电机更容易急减速和抱死,触发器件进入短路工况。且更高的母线电压,对短路耐量和能量也提出了更高的要求。基于此,1500V规格和1700V规格采用短路增强的设计方案,为保护电路预留充分的响应时间裕量;与此同时,Rsp分别达到2.7 mΩ.cm²和3.6 mΩ.cm²;BFOM明显提升,分别较市场主流水平提升约20.1%和27.3%。2300V规格和3300V规格的Rsp则分别为5 mΩ.cm²和12.5 mΩ.cm²,终端结构采用抗界面电荷设计,BFOM分别较市场主流水平提升约15.2%和14.7%。

END

作者 808, ab